Физики нашли новый способ описания характеристик оптических наносистем

Физики нашли новый способ описания характеристик оптических наносистем

Специалисты создали модель, которая описывает взаимодействие света с произвольной поверхностью. Эта технология облегчит процесс проектирования устройств с использованием графена и матаматериалов.

Физики из Франции и России создали модель, благодаря которой можно получить одну из важнейших характеристик оптической системы – матрицу рассеяния. Это возможно из-за того, что созданная модель способна описать процесс взаимодействия света с любой поверхностью. Матрица рассеяния имеет фундаментальное значение в проектировании оптических приборов, так как на основе данных о падающем свете можно спрогнозировать куда он попадет.

Авторы модели считают, что их подход к расчету матрицы можно использовать и при прямоугольной, и при криволинейной системе координат. Также пользоваться данным методом есть возможность во время расчета электромагнитных полей численными методами. Протестировать модель ученые решили на гофрированном графене на поверхности кремния, а также на этом же графене на кремнии, но с добавлением тонкого слоя оксида кремния. Физики считают, что в будущем этот метод можно использовать для предсказания оптических характеристик материалов, а также ускорять процесс разработки с их использованием.

Источник

Следующая новость
Предыдущая новость

Daemon Tools Pro 4.30.0304 Advanced + crack [Русская версия] F-Secure Internet Security 2009 9.50 for Windows 7 (Technology Preview) System Mechanic Standart 9.0.2.2 + key Firefox 3.5 RC 1 X-Moto 0.5.1

Последние новости